波长色散XRF光谱仪

仪器XRF元素分析仪：
一、检出限
有的XRF商家称检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM。很多XRF商家使用仪器的检出限来迷惑客户，宣称他们的仪器检出限很低，能完全满足你的需要。仪器检出限是三倍仪器噪音的值，在实际使用中没有多大的意义。其实客户关心的是方法检出限，有现实意义的是方法检出限，也就是说在满足其它质控要求的条件下，实验所用的方法能从样品中检出目标物的zui小浓度。所以以后XRF商家说他们的仪器检出限有多么低的时候，你可以问下他们的方法检出限是多少。因为大家都知道在实际检出中，都存在基体干扰的，如果分辨率不好，虽然仪器检出限很低，但到具体检测一个样品的时候，方法检出限可能会使仪器检查限的几倍甚至几十倍。
二、仪器的精度
一般XRF的精度都比较差，因为他属于筛选型的仪器，精度要好，除了仪器本身的原因以外，还同做标准曲线有很大关系。如果单说仪器的精度有多好，个人认为也是很不科学的。
三、仪器的稳定性
有的XRF商家说他们的仪器稳定性有多好，你就要看是短时间的稳定性还是长时间的稳定性了。
短时间的仪器稳定性也是没什么意义的，一般以8小时长时间的仪器稳定性为标准。8小时稳定性<1%的仪器稳定性应该是不错的。

XRF基本参数法是与经验系数法对应的另一种重要的定量算法，是基于XRF的基本原理进行定量计算的方法，依据严格的理论计算对基体吸收增强效应进行准确的校正，不再依赖于大量的标样，只要一到两个含量准确的标样，即可得到非常准确的定量计算结果。这种判断来源于即使采用大量的标样，所有的标样点都很好地落在一条直线上。基本参数法的核心是根据X射线产生和与物质相互作用的原理结合具体的仪器光路结构和探测器能量响应曲线对探测器接收到的荧光谱进行复杂的数值计算。

采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势：
1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。
2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。
3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求；
4.对样品测试要求进行拆分测试。
采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势
1.分析样品无损、快速，针对未知样品可以快速分析；
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下，其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果，一次可测试元素二十多个以上；
5.可用于生产中的过程内部控制，测试可达到在线、速度快，快速反应生产线等特点。

仪器XRF元素分析仪能够应对各种镀层厚度和材料分析挑战。它将大面积正比计数探测器和微聚焦X射线管相结合，可实现同类产品中的较佳准确度。标准的基座配置是开槽样品台，可完成从小型零部件到大型扁平印刷电路板（即使其**出仪表本身宽度）等各种样品的测量。加深样品台主要适用于较高样品，而程控样品台则能自动完成测量。即使无人监管操作，程控样品台仍能实现较高的样品处理量。各种选装配置能确保用户在达到目标规格的同时能降低成本并减少耗时的过量镀层和返工。所有操作人员往往担忧该如何正确装载并定位样品。一旦将样品妥善放置，本品在数秒内便会显示结果，而且操作人员可以自由继续进行下一项任务。选装这些配置，配合根据可溯源标准优化的校准性能，您可完全信任仪器XRF元素分析仪生成的结果。