ROHS快速检测仪 有害物质测试仪 技术成熟 产品稳定

RoHS实验室建立方案
ROHS实验室的建立，不但能够满足电子行业中禁用物质检测，还可满足POHS指令中各限用物质的检测
ROHS分析仪器配置：
1．X荧光光谱仪
2．电感耦合等离子体发射光谱仪
3．气质联用仪
4．紫外可见光分光光度计
对检测样品可先进行快速扫描，比如先用XRF仪器对样品进行粗测，发现管控元素**过控制标准或接近管控标准时，再进一步用化学方法进行确认，这种物理和化学检测相结合的形式可大大减少检测成
本，缩短检测周期，无形中提高了检测效率，对生产单位来讲，就是赢利。
随着发展，ROHS检测仪的价格也日趋合理化起来，各个厂家都有明显下降。对于需要买ROHS检测仪或者像更换的，在此推荐几个牌子的ROHS检测仪，希望对大家有帮助。目前市场上ROHS检测仪主要分为三类：一是高端进口的国外rel="nofollow" 仪器厂家如美国热电，德国斯派克为代表的高端ROHS仪。二是，华唯，岛津等传统ROHS仪器厂家。三是价格比较*的3V，西凡电子，禾苗等厂商推出的ROHS仪。 　　以下推荐是小编根据自己个人整理推荐，仅供参考！　　品牌：仪器　　仪器1992年开始做光谱仪，XRFrel="nofollow" 荧光光谱仪已累计销量3万台；可以说占据了大半市场的销量，且市场口碑也十分不错，销售也是实力碾压一切的有力证据！ EDX1800BEDX1800B采用下照式：可满足各种形状样品的测试需求；准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足不同样品材质和测试点的检测；移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点；高分辨率探测器：提高分析的准确性；新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率。

应对欧盟RoHS2.0指令--2011/65/EU 应对无卤指令IEC 61249-2-21 应对REACH指令 应对玩具En71指令 应对美国CPSIA消费品安全改进法 应对Cina-RoHS国推自愿性认证4种模式 ROHS检测仪EDX1800E应用领域： 电子RoHS，卤素，WEEE等环保指令应对 金属合金成分分析 电子电器、塑料、油墨、皮革涂料 ，有害物质分析，镀层分析，卤素分析 RoHS环保指令佳解决方案。 可完全满足RoHS&WEEE指令、ELV指令、玩具指令、无卤化标准、REACH法规、无磷、无硫测试相关管控要求 仪器所生产的EDX1800E型的X荧光光谱仪（XRF）是用于各种电子、电器、塑胶制品企业进行有关RoHS方面的快速筛选、自我监控的一类仪器。**于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备*液氮型电子制冷(SDD检测器)检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS*二阶段应对手段
贵金属检测仪器的工作环境有没有特殊要求？还是有一些小小的要求的。比如温度湿度等一些条件..，为了延长仪器的使用寿命，配附件的使用寿命，贵金属的正常使用环境要求，有一些相关的了解还是很有必要的。
1、专人负责仪器的操作和维护。
2、在没有电磁干扰的环境下测试，如仪器附近不能有大功率的电机、电焊机等。
3、建议使用UPS（电源稳压器）。
4、保持仪器的清洁和干燥。
5、请不要把仪器放在太脏或者太热太冷的环境里。
6、请不要自行修理仪器。
7、测试后，请关闭盖子，避免仪器受污染。
8、温度要求：在-11～46℃之间。
9、电压的要求：在100～127V或220～240V，50/60Hz
10、湿度：0-60%为宜
RoHS检测仪是一种检测ROHS的检测仪，原理是利用X射线检测ROHS标准规定中的元素的含量。目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见。
技术原理：
放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线－－特征X射线。
不同元素特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；再根据特征X射线强度线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为：
C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中：Kn(n=1,2,3…)表示*n号元素的待定系数；In(n=1,2,3…)表示*n号元素释放的特征X射线强度，由此可知只要通过标定确定系数Kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
2007年年初，家、、、国家工商总局、国家质检总局、国家环保总局颁布了《电子信息产品污染控制管理办法》(简称《管理办法》)，标志着中国版RoHS问世。近日，与《电子信息产品污染控制管理办法》配套的电子信息产品污染控制三个主要行业标准已经完成报批，不日将正式发布。*指出，电子信息产品污染控制相关标准的将推动中国版RoHS全面实施
在2006全国电子信息产品污染控制工作会议上，副部长娄勤俭指出，污染控制管理将采取以标准为核心，“立法+制定标准+行政干预”三位一体的工作框架。他说，“从源头抓起，立法**”，在制定《管理办法》后，要在立法的强劲势头推动下，制定出相关的标准，把电子信息产品污染控制的基础夯实。
电子技术标准化研究所副总工程师兼电子信息产品污染控制标准工作组邢卫兵说，污染控制标准包括设计标准、产品标准、生产环节标准和建设标准等，从设计环节到后进入消费领域，形成一个全流程的标准体系。这次完成报批的三个标准包括《电子信息产品污染控制标识要求》、《电子信息产品有毒有害物质的要求》和《电子信息产品有毒有害物质的检测方法》，还有五个关于无铅焊料的标准正在制定当中。
电子信息产品污染控制标准工作组副组长黄建忠告诉记者，早在2004年就启动了电子信息产品污染控制标准的制定工作，其总体思路是：积极跟踪、参与国际标准的制定；完成国标委委托的起草电子电器产品有毒有害物质监测标准的任务；制定电子信息产品污染控制行业标准。目前，标准组已经积极参与了国际电联(IEC)的TC111组织活动，根据国标委的协调与安排，牵头组织了中国WG3工作组；也组建了电子电器产品有毒有害物质浓度测定程序国家标准工作组；2004年10月组建完成了电子信息产品污染控制行业标准工作组，开始了电子信息产品有毒有害物质的标准、检测标准、无铅焊接标准、认证与标识标准等8个行业标准的制定工作。
电子信息产品污染控制标准的制定过程一是非常标准、规范，二是公开、透明。标准组的大门是敞开的。据介绍，目前标准组成员已由初成立时的65家企业、单位发展到现在的102家企业、单位。标准组的有关*一再强调，标准的制定应尽量和国际标准接轨，力争“等同采用”。
分析原理：
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
RoHS指令简介
2003年2月13号:欧洲议会及理事会制定的<<关于在电子电器设备中限制使用某些有害物质的指令>>
(The Restriction of Hazardus Substances in Electrical and Electronic Equipmenr(RoHS) Directive (2002/95/EC)公布于众生效.2004年8月13日之前,欧盟各成员国应完成相关立法工作.
2005年8月13日之后,报废电子电器产品回收体系和处理及成本支付系统必须开始运转,该指令必须开始作为各成员国法律生效.
2006年7月1日之后:原则上,含有RoHS指令所限制使用的六类有害物质的电子电器产品将不允许进入欧盟市场.
RoHS指令中限制使用的有害物质为:有害重金属:铅(Pb)、汞(Cd)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)有害**物:(PoltBrominated Biphenyls)、醚(PoltBrominated Diphenyl Ethers)
二、应对方案
作为无机和**污染物检测领域科学仪器的者-仪器确保你的产品达到环境保的要求,包括欧盟RoHS和WEEE指令的要求。
RoHS和WEEE指令从2006年7月开始全面实施,法规将严格限制镉、铅、汞和六价铬,以及溴阻燃剂,如(PBBs)和多溴苯醚(PBDEs)在电子电器产品中的使用.同时,指令也遵循旨在环境保护问题的其他法规,例如欧盟指令76/769/EEC就列出47条危险物质和物质分类.
仪器理解RoHS指令的深远含义,意识到执行指令多电子电器设备制作商、他们的供应链以及消费者的挑战和经济负担.在当前严峻的形式下,呼吁那些制造、分配或出售设备到欧盟的公司要测定受限物质是否存在自己的产品,如果存在,是否在可接受的浓度范围内.目前,**电器厂家均已建立各自的产品质量管理方案,以使其产品符合RoHS/WEEE指令的管制要求.
为了帮助执行**环境保,仪器提供相关分析工具,包括仪器,消耗品,软件和技术支持;为了支持应对RoHS/WEEE指令,我们提供全谱直读电感耦合等离子发射光谱仪(ICP-OES)、 原子吸收光谱仪(AAS)、紫外-可见分光光度计(UV-Vis)用于分离镉、铅、汞、六价铬,气相色谱(GC)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)用于分析和醚.
仪器XRF元素分析仪一般使用以下三种类型探测器中的一种：“Prop”（比例）计数器、硅PIN二极管，以及硅漂移探测器（SDD）。
比例计数器是一种气体电离装置，通过产生与辐射能量成比例的检测器输出来测量入射辐射的能量。比例计数器有一个相对更好的检测窗口用于捕获荧光X射线。它们工作在中等电压范围，非常适合于测量传统的单层（和一些多层）电镀沉积物。
值得一提的是，比例计数仪器是这三种类型探测器中价格zui*的，对于不需要高分辨率的简单应用，可以有效看到光谱峰的分离。但是，这类探测器同样存在一些缺点，主要包括高基线噪声和需要频繁的进行校准。
温度控制对这些设备至关重要，因为探测器需要使用一些对温度变化高度敏感的气体——比任何固态探测器都要敏感得多。充气管还会随着时间的推移而可能发生一定的泄漏。尽管它有这些缺点，但由于检测窗口较大，其通量通常较高，因此它可以检测到大量的光子。所以，虽然应用领域可能有限，但标准偏差较好。
硅PIN二极管提供的光谱分辨率优于比例计数器。这意味着操作人员可以测量更薄的沉积物和更低的元素浓度，并执行一些更复杂的测量，例如合金和厚层样品以及涉及到未识别材料的测量。凭借Peltier效应（TEC/TEM）冷却技术，硅PIN探测器具有更低的噪音，而且分辨率和检测限都更加出色，结果也更加稳定。
硅漂移探测器通常能够产生比前两者更高的计数率和光谱分辨率，一般值比硅PIN二极管探测器高出50％左右。与比例计数器相比，峰值背景比率得到了显著的改进，基线噪声也更低，可以得到更好的检测限和更大的元素测试范围。
因为有效地消除了背景噪声，所以硅漂移探测器能够非常精确地测量重叠元素——周期表上的那些“相邻”元素，如镍、铜、锌以及铬和铁（它们之间的信号分离zui小）。而原来使用的一些技术，如果没有数学计算就无法解决这些重叠元素的测试。今天，由硅PIN和硅漂移探测器提供的分辨率改进就很好地消除了对数学计算或数字滤波的需要。
与硅PIN一样，硅漂移探测器芯片组也是根据Peltier效应冷却的，不受气候影响，并且不需要氮气储存。所以，这些探测器几乎不需要进行太多的维护。硅漂移探测器是50μm以下薄膜样品以及一些复杂技术领域中应用的薄膜的检测器，包括ENIG、EPIG和ENEPIG（化学镀镍浸金、化学镀钯浸金和化学镀镍钯浸金）等。