x荧光测厚仪 镀层检测仪

X射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
X射线镀层测厚仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法， 射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

仪器镀层测厚仪主要用于涂布、锡膏、涂层、漆膜、涂镀层、厚度测量。利用激光热辐射传到时间原理，可以测量湿润的或干燥的图层，如可溶性和水基漆，粉状漆或琺瑯质薄膜。这些薄膜可以是涂覆在金属、橡胶和陶瓷上。测量头和被测表面非接触测量，实时快捷，允许应用在油漆环境。测厚仪直接和PC机相连接，适合于过程控制。测量头到控制面之间电缆长3米。是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。有用户反馈仪器在使用过程中出现测量结果不准确的情况，那么，哪些原因虎造成其测量结果不准确呢？以下是影响仪器镀层测厚仪测量结果准确度的几个因素，给大家做个参考！
一、人为因素：这种情况经常会发生在新用户的身上。镀层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
二、附着物质的影响：镀层测厚仪对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是的、光滑的。
三、镀层测厚仪发生故障：此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
四、强磁场的干扰：当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
五、在系统矫正时没有选择合适的基体：基体zui小平面为0.3mm，zui小厚度为0.005um，低于此临界条件测量是不可靠的。
镀层测厚仪测量前准备工作
镀层测厚仪可以快速、无损、精密地对工件表面涂镀层厚度的测量。既可用于实验室之中，也可用于各种工程现场，所以高质量的镀层测厚仪广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。那么，镀层测厚仪测量前需要做哪些准备工作呢？珠海天创仪器公司为大家详细说明：
1、检查好电源
镀层测厚仪在起到测量之前，要想检查好电池状况，如果开机无显示，表示无电池或电池的电压太低而无法显示，如果出现低电压指示，则表示电池电压不足，这两种情况下都应该立即更换电池。
2、选择合适的探头
不同的工件材料、不同的的测试条件均需要使用不同的探头，所以在正式对工件进行测量之前，一定要根据需要测量工件的特点来为镀层测厚仪选用合适探头，将其安装在镀层测厚仪上并拧紧。此外，探头都安装在滑套里，可以保证探头进行安全稳定地定位，所以选择好之后，要让探头保持适当的接触压力。
3、校准测厚仪
为了确保拥有非常准确的测量值，应在测量现场对镀层测厚仪进行校准。在校准时可以将已知厚度的箔，或者已知覆盖层厚度的试样来可作为校准标准片，此外，在通常情况下会使用零点校准、二点校准以及在喷沙表面上校准这几种方法来校准。

X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。
X荧光镀层测厚仪工作原理：通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
X荧光测厚仪的优势特点：
**高分辨率、**清摄像头、**便捷操作、**快检测速度、**人性化界面
易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
有助于识别镀层成分的创新型功能
机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室
按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果
使用PC机和软件，可以*方便地制作样件的检验结果证书
用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
X荧光测厚仪应用范围：
合金分析
镀层厚度分析
电镀液金属离子分析
磁性介质和半导体元素分析
土壤污染元素分析
过滤器上的薄膜元素分析
塑料中的有毒元素分析

X射线测厚仪的精度检验及厚度控制
X射线测厚仪作为在线测量厚度的精密仪器，为了保证其测量精度和可靠性，需要定期对其精度进行检验和校准。精度检验分为静态和动态两种。
静态检验是用已知厚度的试样放在测厚仪下进行测量，根据测量结果确定X射线测厚仪的状态。检验前，要确定试样状态完好，厚度均匀，没有变形和弯曲，测量位置以减少测量误差。测厚仪显示厚度平稳的一段产品，根据要求裁取一定数量规格的试样，

SDD半导体探测器：
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm2
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃
X射线光管：
管压：5-50kV
管流：0-1mA
靶材：W靶
窗口：铍窗
制冷方式：风冷
工作温度：≤75℃
高压发生器：
输入电压：24V
输入大电流：5A
管压：0-50kV
管流：0-2mA
灯丝大电压：5V
灯丝大电流：3.5A
由仪器举办的“镀层测厚行业全国巡回技术研讨会”场会议在在深圳长丰酒店圆满落幕，吸引了来自电镀行业的近100名企业代表参加。
随着社会化进程的加快，人们对于生活环境的要求也越来越高，减少环境污染，建设生态文明已经成为共识。电镀行业必将顺应此潮流，向着更加环保、更加标准化的方向发展。仪器作为国内分析测试仪器制造行业的者，将为电镀企业客户提供完善的解决方案和技术支持，助力电镀行业更好、更快地实现这一转变。
会上，仪器销售经理何举良深入解读了电镀企业的发展前景，全面分析了该行业所面临的巨大挑战。同时，他也向来宾详细介绍了公司产品在电镀行业中的应用实例。
仪器针对镀层厚度测量精心设计了一款高端仪器——镀层测厚仪Thick 8000，仪器采用行业先进的硅漂移探测器技术，分辨率低至135eV。全自动智能控制方式，实现一键式操作。移动平台采用先进的变频技术，高转速达5000转/分钟。演讲过程中，马经理还展示了Thick 8000和行业内其他仪器的重复稳定性数据测试数据，通过比较帮助客户更直观地了解到Thick 8000的优越性能。
会议现场，仪器销售经理何举良和马春杰与客户现场交流互动，得到了客户的热烈回应。答疑环节中，仪器技术人员解答了客户在产品生产制造和检测仪器操作使用中所遇到的各类问题，指导客户更好地开展工作。
镀层测厚仪的测量方法主要有哪些
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且**，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。