x射线荧光分析仪

 X射线荧光分析仪的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。高效**薄窗X光管，指标达到国际先进水平。较新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性。