手持式x荧光光谱仪 荧光分析仪

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的*到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器**对岩心中的元素具有**低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用进口**薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；
优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；
*特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方*机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；
在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。
主机标准配置：
上照式光路系统直射模式 SDD探测器 数字多道处理器 美国进口高压
进口牛津铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统
高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头
整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵

顺序式波长色散X射线荧光光谱仪是一种重要的大型科研仪器，可以对从Be-4到U-92的所有元素进行高含量、常量和微量检测，广泛应用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古、环保等诸多部门和领域。该仪器结构复杂，涉及高压控制、精密运动设计、真空静动密封设计、高速数字信号处理以及无标样算法等高难度技术研发工作。其中晶体、准直器、滤光片是光谱仪的重要组成部分，在《JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》中对这三者定位精密度有严格的要求，因此对它们的运动控制方案开发非常重要。本文研究并设计搭建了顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的运动控制系统，是基于LPC1766的电机控制方案，利用LPC1766的PWM模块通过电机驱动芯片DRV8412分别控制三个直流电机正反转，再结合GPIO中断功能和光电开关的逻辑响应实现晶体、准直器和滤光片的精确定位。

X荧光光谱仪如何建立面向应用的标样
如何建立面向应用的标准样品呢？可以从以下几步实施：
1、先将用户要检测的样品材料进行分类，将不同材质的样品分成不同类别。
2、同类别的材料再按其基材和主要组份分类。
3、同基材的材料按照其主要组份进行归一化分类。
4、确认归一化的材料的组份差别控制在可容许范围内，并确认其中应无影响谱线的不确定特征干扰元素出现，或者按照供应商进行分类。
5、在1-4步基础上(用户可根据自己需要的精确度和可操作性选择进行到那一步)后细分的类别，使用ICP_OES和GC_MS等仪器对其中的主要组份、相关组分和待测组分进行定量分析。并根据待测组分的含量情况可以人为添加一定量的待测元素，为了保证添加的元素的状态稳定，应尽量添加其稳态化合物。以此建立给分类材料的标准样品，并使用该标准样品在X射线荧光光谱仪上建立标准曲线。
6、根据用户需要，不断扩充标准样品种类，并对应材料使用者进行对应的物料编号或使用用户编号，使操作员能准确使用对应的标准曲线进行该类材料的检测。

产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
高效**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）