性能优势
可靠性高
由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求
:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
快速
1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
无损
测试前后,样品无任何形式的变化。
直观
实时谱图,可直观显示产品测试点
简易
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
性价比高
相比其他类类仪器,x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
一、硬件:主机壹台,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) Si-PIN电制冷半导体探测器
(3) 信号检测电子电路 (4) 高精度二维移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源
(7) 开放式样品腔 (8)双激光定位装置
(9) 铅玻璃屏蔽罩
二、软件及其他:X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
2.1 计算机、打印机各一台
计算机(品牌,液晶显示屏)、打印机(品牌,彩色喷墨打印机)
2.2 资料:器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
2.3 标准附件
准直孔:Ф0.2mm,Ф0.3mm,Ф0.5mm,Ф1.0mm(可选其中一种)
(已内置于仪器中)
镀锌层测厚仪的使用注意事项
(1)测量** 定要在基体 材 料 、厚 度 、测 量 面积、表面曲率半径都与被测样本相同的无涂层的底材上调零,以保证测量的性;
(2)为保证读数的准确性,每次测量之间间隔几秒钟;测量喷砂、喷丸表面上的涂层要严格按照说明书的校准步骤进行校准;
(3)不要用力拽或折测头线,以免线断或造成接触不良无信号;
(4)被测量表面有酸、碱溶液或潮湿的物质时必须进行清洁处理,去除这些酸、碱溶液或潮湿的杂物,以免损坏测头;
(5)测量时使测头轴线垂直于被测样品表面。
(6)一般每次测量时间间隔应大于 3 秒。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
工作原理:
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标,关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器,配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准。
2、性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
3、技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
4、测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行精确定位测试,其测试位置如图。