便携式XRF仪器

XRF内控检测的优势
企业既可以进行XRF测量，也可外包给第三方检测。但是，使用XRF光谱仪作为内部管控检测为您带来一些明显的好处：
您可节省时间
这一点相当明显，但是如果您不将产品运送至另一家公司，然后等待他们测量后运回，则您可节省很多时间。现在，进行XRF测量确实需要花费一些时间，但是我们谈论的是几分钟，而非几天。如若您能确保所有测试过程在组织内部进行，则您可较大地减少标准生产时间。
更轻松地按时发货
如此可节省时间；如果您的测试过程耗时更少，则您可更快地发货。但是这也与控制有关。当您在某些测试过程中依赖第三方时，在一定程度上您必须适应他们的时间安排。我敢肯定测试实验室具有专业性，且能够如期完成，但是和我们一样，他们忙碌时不得不延长其交货时间。若您能确保在组织内部进行测试过程，则您可以按计划发货。
更快地解决问题
XRF测量结果可快速让您知晓您的工艺（甚至您的基材）是否有任何问题。等到您从您的测试公司得知这一消息，然后再努力找到问题，便会耽误解决问题的时间。尽管让您的工艺恢复正常可能仍然是一项挑战，但是如果您能在组织内部进行测量，则您能更快地找到根本原因并恢复正常工作。
保持文件更新
在发送结果以及跟踪正确的测量结果到正确的样品批次方面，专业的测试实验室表现出色。但是，如果您在组织内部进行测量，便可控制这一过程。您甚至可实现自动保存大量记录，确保完成测量后文件便会得到更新。这使审计时的工作更加轻松。

环保是世界的潮流，但是不断出现的环境污染事件，使人们日益关注自身的健康，关注有害元素对人的危害，**都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值日渐降低，例如，2006年7月1日实施的欧盟RoHS指令中铅元素限制值是1000ppm，09年实施的美国消费品安全法（简称CPSIA）,铅元素限制值降低到90ppm,面对市场需求,秉承“仪器,无微不至”的精神,采用新技术,特别设计了SUPER系列的X荧光光谱仪。
性能优势
*特的激发X光源
采用**技术--*特的激光X光源、样品激发装置和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度，降低检出限。
性能、微量X荧光检出*
采用*特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发靶材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有**低的元素检出限。
大器稳重、准确无损
大样品腔设计，适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术，使测试更加稳定准确。

性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围：磷（P）～铀（U）
检出限：1ppm
分析含量：ppm～99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg

XRF测试仪故障案例三：
计数率不稳定
　　故障分析：
　　X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个：流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定，问题常出现在流气计数器上。
　　流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成，由于窗膜承受大气压力，一段时间后随着基体材料的延展，铝膜可能产生裂纹，从而减弱导电性能，这种情况对脉冲高度分布影响不大，但会使计数率不稳定。新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。
　　检查方法[2]：在低X射线光管功率情况下，选一个KKα计数率约2000CPS的样品，测定计数率，然后用一个钾含量高的样品取代原样品，将光管调到满功率，保持2分钟，再将X射线光管功率减至原值，测量个样品，如窗膜导电正常，将得到原计数率，如窗膜导电性能变差，会发现计数率减小，然后慢慢回升至初始值，这时就应调换窗膜。