xrf荧光光谱仪 元素分析仪

X荧光光谱仪的工作方式主要分为两种，一种是波长色散的，另一种是能量色散的。
　　由于两者的检测方式不同，造成了价格上的区别。
　　波长色散X荧光光谱仪需要大功率激发，所以相对的仪器体积也比较大，工作功率大概在3KW到4KW。他的检测下限相对会更低一些。当然价格也会很高。都是百万以上的设备。
　　能量色散X荧光光谱仪的工作功率就要低很多了，一般只有200W左右，而且体积也很小，检测下限要比波谱稍高一些，但是如果是用于生产中的检测应该没有问题。价格相对较低，一般在百万以内，但也要有几十万（大概70万左右，含国产制样设备，但配置不同，价格还会有差异）
　　现在X荧光光谱仪的应用范围相对较广，无论是矿物，土壤，木材，化纤材料，金属，塑料橡胶，还有液体油品都可以检测。
　　当然在选择设备时要注意的是该产品使用的荧光管、靶材还有检测器，这几个核心部件是仪器使用效果的关键。

X荧光光谱技术的发展
1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪，这是中国次引进X荧光光谱分析仪。 1895年，德国物理学家伦琴发现了X射线。 1896年，法国物理学家乔治发现了X射线荧光。 1948年，弗里德曼和伯克斯研制了台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪。
1969年，美国海军实验室研制出台真正意义上的EDXRF光谱仪。从上面的X荧光光谱仪的初始发展过程来看，荧光光谱分析仪这项技术比较年轻，从发现X射线荧光到出现X射线荧光光谱分析仪都不过一**，后应用到各种领域中的时间也才几十年。同样，我国X荧光光谱分析也是光谱分析领域中较年轻的分析手段之一，1959年，我国请苏联*来华在应化所举办了x光谱学习班，随后，我国不断开展X荧光光谱学习班，为之后中国X荧光光谱分析技术打好了基础。
1981年，我国X光谱分析工作者出版了自己编著的书籍，由此可见，在这些年中，我国研究X荧光光谱的学者们做了不少的工作。
从上，我们知道了很多厂家都喜欢购买进口光谱仪，还了解我国引进台X荧光光谱仪后的发展，明明前后研制的时间差不多，几年的差距为什么技术差别那么大，我们是否真正克服了这项技术。1959年，我国研制了台X荧光光谱分析仪，但是这是大型的X荧光光谱分析仪（我们现在购买的X荧光仪器都是手持式的，方便易携带）。当年有单位购买了国产的大型X荧光光谱仪后，不仅所发挥的作用不大，还经常发生故障，不能充分发挥作用，因此，我国X荧光光谱分析发展受到了影响，大部分工作还是用进口仪器完成。 在X荧光光谱仪的研制与投产上学者与研制者们集聚力量，对X荧光光谱技术进行分析，之后的成果斐然。北京师范大学在X荧光光谱分析在表面微区，微试样的分析中做出了开创性的工作。王燕，赵敏等学者对X荧光强度与含量的线性关系进行了分析，并对定量分析方法进行了模拟运算，总结了优的计算方法。周云泷等学者通过计算机软件分析计算，对一些微量元素进行分析，达到较为满意的分析结果。之后的一些研究因篇幅原因不再一一概述，但之后越来越多的学者们都为X荧光光谱分析付出了努力。

XRF优点：
快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟
无损：物理测量，不改变样品性质
准确：对样品可以精确分析
直观：直观的分析谱图，元素分布 一目了然
XRF测ROHS上的缺点：
1、X荧光分析属于对比分析仪器，需要标样做对比分析
2、只可以测试样品的元素，对化合物价态无法区分。如：只能测试总溴和总铬的含量
3、它是表面分析设备

X荧光光谱仪如何建立面向应用的标样
如何建立面向应用的标准样品呢？可以从以下几步实施：
1、先将用户要检测的样品材料进行分类，将不同材质的样品分成不同类别。
2、同类别的材料再按其基材和主要组份分类。
3、同基材的材料按照其主要组份进行归一化分类。
4、确认归一化的材料的组份差别控制在可容许范围内，并确认其中应无影响谱线的不确定特征干扰元素出现，或者按照供应商进行分类。
5、在1-4步基础上(用户可根据自己需要的精确度和可操作性选择进行到那一步)后细分的类别，使用ICP_OES和GC_MS等仪器对其中的主要组份、相关组分和待测组分进行定量分析。并根据待测组分的含量情况可以人为添加一定量的待测元素，为了保证添加的元素的状态稳定，应尽量添加其稳态化合物。以此建立给分类材料的标准样品，并使用该标准样品在X射线荧光光谱仪上建立标准曲线。
6、根据用户需要，不断扩充标准样品种类，并对应材料使用者进行对应的物料编号或使用用户编号，使操作员能准确使用对应的标准曲线进行该类材料的检测。