金属测厚仪 厚度分析仪 精工打造 质量有保证

X射线镀层测厚仪/X光镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单
● X射线镀层测厚仪的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
应用实例图示
（1）单镀层：Ag/xx
（2）合金镀层：Sn-Pb/xx
（3）双镀层：Au/Ni/xx
Ag
Sn-Pb
Au
底材
底材
Ni
底材
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx
（5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx
（6）化学镀层：Ni-P/xx
Sn-Bi
Au
Ni-P
底材
Pd
底材
Ni
底材

随着客户的需求，镀层测厚仪已经发展为多元化，那在如今市场如何选姐一款好的仪器很重要，它关系到您以后的使用方便。
　　1.为什么镀层测厚仪有时测量不准确?
　　这是一个比较笼统的问题。因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。沧州欧谱单对镀层测厚仪来说，主要有下面几种原因引起测量不准确。
　　(1)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
　　(2)人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。镀层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
　　(3)在系统矫正时没有选择合适的基体。基体zui小平面为7mm，zui小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
　　(4)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是的、光滑的。
　　(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
　　2.镀层测厚仪测量过程中，为什么有时候测量数据会出现明显偏差?
　　因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对镀层测厚仪来说，主要有下面几种原因引起测量不准确。
　　（1）强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。 沧州欧谱
　　（2）人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。镀层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
　　（3）在系统校准时没有选择合适的基体。基体zui小平面为7mm，zui小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
　　（4）附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是的、光滑的。
　　（5）仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
　　（6）测量过程当中由于探头放置方式不正确或者外界干扰因素的影响可能会造成测量数据明显偏大。这时可以按住CAL键把该数据清除以免进入数据统计中去。
　　3.镀层测厚仪如何系统校准?
　　校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时zui好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。
　　4.如何选择合适的仪器型号?
　　选择什么型号的仪器zui好，要根据用户测量物体的厚度来定。一般来说测量450um以下的物体时zui好选择OU3500F400系列，对0~450um的厚度来说该型号已经达到2%~3%的度，而且对450um以下的厚度值它也能够很好的确保测量精度。如果测量物体厚度在0-5000um，建议选择OU3500型测厚仪。更厚的话就要选择OU3500F10型磁性镀层测厚仪。
　　5.有时开机出现干扰是什么原因无损检测资源网?
　　开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量，就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:
　　(1)开机时探头离铁基太近，因为铁基磁场的影响而受到了干扰。
　　(2)没插好探头或者探头线有损伤。

X射线荧光(XRF)仪器的工作原理
X射线荧光(XRF)仪器的工作原理是对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
X射线荧光分析的优点如下：
zui少或*样品制备
无损分析　
可测元素范围广： Ti 22 to U92
可分析固体和溶液
分析快速：几秒内得到结果
定性、半定量和全定量分析
操作*，只需要简单培训
X射线荧光标准检测方法、规格和操作指导**通用，可提高产品质量、
安全性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。