金属表面镀层测厚仪 膜厚仪 性能稳定 安全环保

高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）。
Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行的镀层厚度分析。
可以增加RoHS检测功能。
MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
当化金厚度在2u〞-5u〞时，测量时间为40S
准确度规格 ±5%
度规格 <5%（COV变动率）
当化金厚度 >5u〞时，测量时间为40S
准确度规格 ±5%
度规格 <5%（COV变动率）
当化银厚度在5u〞-15u〞时，测量时间为40S
准确度规格 ±8%
度规格 <7%（COV变动率）
测化锡时，测量时间为40S
准确度规格 ±8%
度规格 <6% （COV变动率）

1.基体金属特性：
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
2.基体金属厚度：
检查基体金属厚度是否**过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
3.边缘效应：
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
4.曲率：
不应在试件的弯曲表面上测量。
5.读数次数：
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
6.表面清洁度：
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
镀层测厚仪应用领域：

根据工信厅科[2010]74号文下达的2010年批行业标准制修订项目计划，其中项目代号2010-1130T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 *1部分：通用技术》、2010-1131T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 *2部分：元素分析仪》和2010-1132T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 *3部分：镀层厚度分析仪》等三项为行业标准制定项目。该三项标准由仪器股份有限公司负责起草，并于2011年8月成立起草工作组。
本次会议，EDX行业标准*组就起草的标准提出了修改意见，对标准做了进一步完善。会上，中国仪器仪表行业协会马雅娟给仪器研发部副部长周晓辉颁发了“全国专业标准化技术会证书”。同期，工作组*参观了仪器。
本次会议的出席单位有：
中国仪器仪表行业协会
中国科学院上海硅酸盐研究所
北京分析仪器研究所
昆山市产品质量监督检验所
岛津企业管理（中国）有限公司
牛津仪器（上海）有限公司
聚光科技（杭州）股份有限公司
北京普析通用仪器有限责任公司
上海思百吉仪器系统有限公司北京分公司