XRF测试仪品牌 性能稳定 安全环保

XRF测试仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。
　　此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长(或能量)分开，分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫XRF测试仪。
　　由于X荧光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，XRF测试仪有两种基本类型：波长色散型XRF测试仪和能量色散型XRF测试仪。

XRF光谱仪的成本问题，
XRF的市场价格从30万元上下到80万元左右，往往以面谈成交。为什么要面谈？因为有太多的“八卦”。购买者需对光谱仪有细致的了解，不能光看报价，还应清楚购入后的使用成本和维护费用。使用成本可能远远**过报价。这是制造成本转移的后果。
　　(1) 购买成本
　　价位越低越好。但是有美元报价、RMB报价；有含增值税报价、不含税报价；有中国香港提货价、北京落地价、安装到位价，等等，要问清楚。
　　(2) 使用成本
　　使用成本是隐含成本，往往被忽略。其实好多商品用廉价的材料、简单的技术、粗糙的工艺将售价压缩很低，用户在使用中发现故障多、不准确、判断错误、效率低下等带来的浪费远较采购节省大得多。在光谱仪上体现的使用成本表现在如下方面：
　　1）检测速度
　　能体现工时、仪器折旧、工期进度等直接费用的经济性；
　　2）灵敏度
　　决定筛选范围，决定能否减少或免去理化分析，反映出是节省钱还是不停地花冤枉钱；
　　3）使用寿命
　　例如同样标定5000小时的设备寿命，每天工作8小时，X射线有效激发时间约2小时，折合有效工作时间为8年。由于测量机制不同而使用寿命相去甚远。一个试样在这台光谱仪上检测只需激发一次X光管，而在那台光谱仪上检测却要激发3次，激发三次的那台光谱仪使用寿命只剩不到3年了。意味着3年后还需再花同样的钱购买新的光谱仪。
　　4）操作成本
　　操作简单和操作复杂会带来操作成本的差异。包括操作者素质培训和工薪。
　　(3)维护成本
IPC-4556是关于印刷电路板化学镀镍/化学镀钯/浸金（ENEPIG）表面处理的规范。该规范于2013年1月发布，其中给出了IPC对于实现可靠的PCB表面处理的详细指南，旨在确保PCB在金、铜和铝线镀层应用中保持佳的使用寿命、可焊性和引线键合。该规范涵盖了一系列PCB表面处理参数，用于确保PCB实现可靠的接触性能，其包括：视觉参考、附着力、可焊性、清洁度和电解腐蚀。然而，该文件主要侧重于镍、钯和金层的特定厚度范围。一方面，钯层必须足够厚，以阻止镍扩散到金表面，从而防止化学镀镍层过度腐蚀。（过度腐蚀会导致焊点变得不可靠）。而另一方面，如果钯层太厚，焊点会变脆，终可能会失效。因此需要金层来保护钯层免受可能对引线键合和焊接产生不利影响的污染，而且金层必须大于规定的厚度。IPC-4556规定，镀层厚度必须使用x射线荧光（XRF）方法来测量。IPC在开发该规范时采用XRF镀层测厚仪进行了大量的测试，因此制定出了一套详细的测量标准，包括设备设置、测量报告和校准建议。

XRF基本参数法是与经验系数法对应的另一种重要的定量算法，是基于XRF的基本原理进行定量计算的方法，依据严格的理论计算对基体吸收增强效应进行准确的校正，不再依赖于大量的标样，只要一到两个含量准确的标样，即可得到非常准确的定量计算结果。这种判断来源于即使采用大量的标样，所有的标样点都很好地落在一条直线上。基本参数法的核心是根据X射线产生和与物质相互作用的原理结合具体的仪器光路结构和探测器能量响应曲线对探测器接收到的荧光谱进行复杂的数值计算。
现有XRF测试玩具中八大重金属方法的缺陷
根据玩具中使用的材料制作标样，然后再用制作的标样作标准曲线用以测试玩具行业中的8项元素。这种方法符合XRF仪器无损分析的特点，方便快捷，有一定的优越性。但是针对玩具中的八大重金属却有致命缺陷：1、玩具中八大重金属元素指可溶性元素，而XRF测试出来的为总的元素含量。2、八大重金属测试是模拟材料在咽后持续与胃酸接触一段时间，由此测定可溶性元素浓度。而并不折算材料中浓度。因此采用XRF直接测试方法的测试结果理论上会比溶解出来测试方法的测试结果扩大50倍。
XRF液测试八大重金属方法优点
1、完全按照玩具标准进行样品前处理，体现了玩具指令测试原理；
　　2、测试过程*每次做标准曲线，减少了操作步骤和时间；
　　3、结合初步快速定性扫描和进一步定量分析两大功能；
　　4、综合了GB6675-86、EN71、ASTM-F963、C.R.C., c. 931等玩具指令；
　　5、能同时满足元素总含量测试和可溶性含量测试需求。
合金元素分析仪是一种xrf光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据x射线的发射波长(λ)及能量(e)确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，xrf度普术就能测定物质的元素构成。每一个原子都有自己固定数量的电子(负电微粒)运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子(正电微粒)数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是fe，原子数是26。 能量色散XRF与波长色散XRF分析技术特别研究与应用了zui里层三个电子轨道即k，l，m上的活动情况，其中k轨道zui为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。在xrf分析法中，从x光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将zui里层即k层或l层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层l层或m层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次x射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而x射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子fe的kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的x射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的xrf能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。合金元素分析仪可谓在分析检测合金元素时具有重要意义，是制造高性能合金的重要帮手。
随着环保的大潮流逐渐兴起，各种分析仪器涌现出来，可是关于你使用的XRF仪器就真的是安全的吗？今天与大家共享的是对不同的单位与剂量辐射方面的小知识。
(1)吸收剂量：是指被照射物质吸收的辐射能量大小；
(2)当量剂量：是组织或器官接受的平均吸收剂量乘以辐射权重因子后得到的乘积。
何谓辐射权重？核辐射进入大气后，空气中不同的射线对核辐射影响不同，比如，中子的辐射权重因子为5～20，α辐射权重因子为20，当量剂量的单位就是毫希沃特（毫西弗）、微希沃特。但是在普通生活环境状态，太阳光中zui多的X、γ和β射线，其辐射权重因子为1，因此，多数情况下，吸收剂量与当量剂量相当，比如，有关部门检测出我国某沿海区域核辐射吸收剂量为0.001戈瑞，当量剂量也显示为0.001毫西弗。
(3)有效剂量：是指人体受核辐射剂量的总和。打个比方，如果空气中核辐射当量为1毫希沃特，而某个人在这种环境下生活了10个小时，对他而言，有效剂量就是1乘以10为10毫希沃特。
是什么原因导致XRF分析仪在铅的测量浓度偏高和检测限（LOD）的增加？
元素干扰可能会导致铅的测量结果偏高，这是由于激发能出现了重叠问题。这种重叠有可能由以下三种情况中的一种或多种引起：
发射谱线直接重合：例如，砷（As）的 Ka 发射能为10.54 keV，而 Pb的La 发射能几乎一样，是10.55 keV。任何和 Pb 发射能接近的元素都有可能造成铅的测试值偏高。具体请参见*二页周期表中列出的特征发射值。
叠加峰与发射谱线相重合：当检测器将两个或者更多的光子作为一个光子进行计数时，就会出现叠加峰。叠加峰对基体中具有高强度 X发射谱线的主要元素的影响特别明显。叠加峰可能会和其他元素的发射谱线重合，比如铁（Fe）叠加峰的数值（12.8 keV)）就和铅的Lß（12.61 keV）发射谱线出现了重合。
在特定条件下的发射谱线干扰：有些发射谱线的干扰只有在某种元素的浓度特别高时才会发生。主要元素的能量分布值过高，会小幅提高相邻元素的检出限。
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势：
1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。
2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。
3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求；
4.对样品测试要求进行拆分测试。
采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势
1.分析样品无损、快速，针对未知样品可以快速分析；
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下，其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果，一次可测试元素二十多个以上；
5.可用于生产中的过程内部控制，测试可达到在线、速度快，快速反应生产线等特点。