X荧光分析仪

    x荧光分析仪的原理介绍：  

在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光X射线的强度就会变强。

利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法）。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。另一个方法是理论演算的基础参数法（FP法）。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。

X射线荧光分析仪图片：

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

X射线荧光光谱仪是一款满足*应用需求的多功能X射线荧光光谱仪，可以快速准确地分析几乎所有的固体、液体、粉末样品中几十种元素，可以分析钢铁、有色金属、土壤、水泥、油品、矿石、耐火材料、玻璃以及用户*特殊材料。根据不同的样品，仪器可以检测从ppm到%不同含量范围内的元素及化合物。在质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用领域中，合良好号鉴别、金属成分快速分析，对实验室分析来说是一项较其严峻的挑战。现在，这 一切发生了根本性的变化，快速精确的分析结果，昂贵分析成本的大幅降低，重大决策的快速制定，均可在XRF分析的刹那间轻松实现。 

高效**薄窗X光管，指标达到国际先进水平