不锈钢x荧光光谱仪 元素分析仪 欢迎来电洽谈

仪器公司是**专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇合金分析技术，配备智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。
EDX3600H合金光谱仪是仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合良好号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。
性能特点:
高效**薄窗X光管
针对合金的测试而开发的**配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
X荧光光谱分析的干扰标准指导
某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。关于谱线重叠效应的修正另有它文供参考。
2某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此时需要仔细设计的参考物质。就是所有不需要分析的元素的含量固定，而要分析的元素浓度不同。这就是所谓基体匹配。Matrix Match.
可替代的是，可使用数学方法来弥补元素间或者基体的效应。
干扰也可能来自康普敦谱线或者X射线管中靶材所产生的特征谱线，这些通过使用滤光轮去除，但同时也可能导致分析谱线强度的降低。
来自金相结构的误差，由于分析目标元素的密度受到样品的质量吸收系数的影响，而且数学模型假设的是均质物质，由此带来误差。例如，在含有碳和碳化物的钢材中，钛和镍可能以钛镍化碳合物的方式存在，相比铁对于钛的K-a谱线来讲，其具有较低的质量吸收系数，钛的密度**这个样品。
其次，对于XRF，由于分析的固体进样性质，以及样品表面的性质可能与标样的差异，导致分析的偏差。
总而言之，样品与标样的不同性越大，其误差越大。所谓不同性包括：基体物质的物理化学性能，例如前面所言的密度，结构，成份组成以及浓度，表面情况，甚至样品中待测试元素的含量是否在标样范围内，每次样品放置的位置等都对于分析结果的准确度有影响。
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
高效**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

波长色散x荧光光谱仪和能量色散x荧光光谱仪的对比
整体结构
由于X射线荧光进入分光系统会有很大的损失，所以WD-XRF的X射线管都采用大功率设计，一般为几千瓦，需要配备专门的冷却装置，且分光系统相对庞大复杂，故WD-XRF体积相对较大；ED-XRF结构简单，没有分光系统，同时，ED-XRF只需用低功率X射线管，一般在几瓦到十几瓦之间，体积较小。
分辨率
能量分辨率是xRF的一项重要指标，WD-XRF由分光系统对X射线荧光进行区分，其探测器只对X射线荧光进行计数而不区分，但ED-XRF的探测器既要计数又要区分能量，所以WD-XRF的能量分辨率约好于ED-XRF的能量分辨率1个数量级。
灵敏度
XRF的灵敏度用检测限表示，检测限数值越小，仪器的灵敏度越高。在高能范围内，WD-XRF的灵敏度与ED-XRF的灵敏度相当，但在低能光子范围内即对轻元素进行分析时，WD-XRF的灵敏度**ED-XRF的灵敏度1个数量级。
使用寿命
WD-XRF的使用寿命一般为10年以上；ED-XRF的使用寿命一般也大于5年，影响ED-XRF寿命的主要因素是探测器部分老化导致其性能指标变差。
价格
ED-XRF一般价格在10-100万之间，部分进口高端机型价格在100-150万。手持ED-XRF进口价格一般在30-50万之间，国产价格一般为10-30万。台式ED-XRF进口价格在50-100万左右，国产价格在10-50万之间。对于WD-XRF的价格，国产WD-XRF的价格一般在50-100万之间。进口WD-XRF价格相对较高，除了部分为50-100万外，其他价格一般都在150-300万之间。
综上所述，可以看出，WD-XRF的优势在于整体性能好，适合科研等高精度分析；ED-XRF优势是体积小，价格低，适合现场检测。
总之，能散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）和波长型X射线荧光光谱仪（ED-XRF）各有优势，可以互补，但不能取代。
对粉末样品一般都要求把刚做好的样品放在干燥器里保存，请问该用哪种干燥器好？
(1) 底部放硅胶的玻璃干燥器即可
(2) 我使用两种的，一种是放置吸水硅胶的，一种是防治浓硫酸的，考究一点再把它搬到冰箱里面
干燥剂可以控制水份，放在冰箱里可以控制温度，达到低温干燥的目的，尤其是保护标准物质和标准溶液。
9.X荧光光谱分析安装前的准备
(1) 按仪器说明书要求准备实验室，包括三相（15-20A）、单项(50A)电源，自来水（20升/分）,接地线（10欧以下），铺设防静电地板（佳），安装空调（恒温）以及除湿设备等， 后就是熟悉仪器操作说明书了。
(2) 还有CWY参数净化交流稳压电源或是UPS不间断电源.
功率要15KVA单相稳压电源、15KVA的UPS不间断电源（单进单出、三进单出）
(3) 如果是生产用的话，我认为重要的就是准备标准样品了。
(4) 仪器安装时，要求制造商帮助做好工作曲线尤为重要。
10.我知道不同分析晶体的2d值不一样，但是为什么要用不同的材料呢？是不同的特征X射线在不同的材料上产生的衍射不一样吗？
(1) 我想还得从布拉格定律来考虑吧，若都使用同样的晶体，有的元素的布拉格角就会……
(2) 不同材料晶体的晶格距离不一样的啊，衍射的强度和精度都不一样的了
(3) 物理中衍射的原理中讲到：只有当阻挡物的大小与光的波长相当时才会产生衍射作用，不同的特征射线波长不同，必须选择“相当”的晶体才行.

X荧光光谱仪进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比：Ii=IsWi 式中，Is为Wi=**时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。
上述这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。
例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线，NiKα在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生FeKα，测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。但是，配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题，目前X荧光光谱仪定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各元素之间的吸收和增强效应的基础上，用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度，并测其荧光X射线的强度。将实测强度与理论强度比较，求出该元素的灵敏度系数，测未知样品时，先测定试样的荧光X射线强度，根据实测强度和灵敏度系数设定初始浓度值，再由该浓度值计算理论强度。将测定强度与理论强度比较，使两者达到某一预定精度，否则要再次修正，该法要测定和计算试样中所有的元素，并且要考虑这些元素间相互干扰效应，计算十分复杂。 因此，必须依靠计算机进行计算。X荧光光谱仪的定量分析和定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。
事实上，X荧光光谱仪在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线，然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。